Факультет Наук
о Материалах
О ФАКУЛЬТЕТЕ

АБИТУРИЕНТАМ

УЧЕБНЫЙ ПРОЦЕСС

НАУЧНАЯ РАБОТА

АСПИРАНТУРА

ОБРАЗОВАНИЕ И КАРЬЕРА

ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ

КОНТАКТЫ

 
 
 
 

 Администраторская часть На главнуюЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ  
Сканирующий зондовый микроскоп
NT-MDT NTEGRA Aura
(NT-MDT, Россия 2005)

Универсальный СЗМ комплекс, сочетающий в себе возможности сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа. Позволяет производить исследования как топологии поверхности, так и электрофизических свойств наночастиц и материалов.

 Параметры:
  • Режимы работы: CTM/ АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия / Отображение Фазы / Модуляция Силы / Отображение Адгезионных Сил / МСМ/ ЭСМ/ Сканирующая Емкостная Микроскопия/ Метод Зонда Кельвина / Отображение Сопротивления Растекания / Литография: АСМ (Силовая и Токовая), CTM
  • Атмосфера: съемка на воздухе или в вакууме до 10-2 Торр
  • Температура съемки: от комнатной до 150оС
  • Внешнее магнитное поле: до 0.2 Тл
  • Максимальное поле сканирования: 110 х 110 мкм
  • Минимальные достижимые шумы: менее 1 Å  

 Толстая пленка люминесцентного комплекса на проводящей подложке ITO (получение OLED) 

Поверхность магнитного носителя (жесткого диска)
компьютера магнито-силовой моде